x射線技術(shù)可以實(shí)時(shí)圖像納米特性

科學(xué)家開發(fā)出了一種新的成像技術(shù),看起來在一個(gè)對(duì)象和地圖的三維分布的納米特性在實(shí)時(shí)。

 

曼徹斯特大學(xué)的研究人員,和同事一起工作在英國(guó),歐洲和美國(guó),聲稱該技術(shù)可以廣泛的應(yīng)用在許多學(xué)科,如材料科學(xué)、地質(zhì)學(xué)、環(huán)境科學(xué)和醫(yī)學(xué)研究。

 

“這個(gè)新的成像方法——稱為一對(duì)象征分布函數(shù)計(jì)算層析成像的一個(gè)最重要的發(fā)展在x射線微斷層近30年,”羅伯特Cernik教授說在曼徹斯特材料學(xué)院的。

 

“用這種方法我們能夠圖像對(duì)象在一種非損傷性方式來揭示他們的物理和化學(xué)納米屬性和聯(lián)系到他們的分布在三維空間在微米級(jí)。

 

“這樣的關(guān)系是關(guān)鍵,了解材料的性能,因此可以用來看看原位化學(xué)反應(yīng),探針應(yīng)力-應(yīng)變梯度在制造的部件、區(qū)分健康和病變組織,確定礦物和含油巖石或識(shí)別非法物質(zhì)或違禁品在行李。”

 

這項(xiàng)研究發(fā)表在《自然通訊》雜志上,解釋了新的成像技術(shù)使用散射x射線來形成一個(gè)三維重建圖像。

 

當(dāng)x射線擊中一個(gè)對(duì)象他們要么是傳播、吸收或散射,Cernik教授在一份聲明中說。“標(biāo)準(zhǔn)x射線斷層掃描是通過收集傳播梁、旋轉(zhuǎn)樣本和數(shù)學(xué)重建物體的3 d圖像。這只是一個(gè)密度對(duì)比圖像,但是,通過類似的方法使用散射x射線相反我們可以獲取信息和化學(xué)結(jié)構(gòu)的對(duì)象,即使它有一個(gè)納米晶體結(jié)構(gòu)。

 

通過使用這種方法我們能夠構(gòu)建一個(gè)更詳細(xì)的圖像對(duì)象和第一次分離納米結(jié)構(gòu)的不同部分的信號(hào)從一個(gè)工作裝置看到原子被做在每一個(gè)位置,在不拆卸對(duì)象。”

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