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安捷倫x系列支持LTE-Advanced射頻測試
安捷倫科技延長了領(lǐng)導(dǎo)LTE-Advanced測量其最新的x系列測量應(yīng)用程序版本。軟件承諾提供最全面的射頻一致性測試LTE-Advanced FDD和TDD發(fā)射器和組件3 gpp釋放11規(guī)范。它可用于臺式和模塊化產(chǎn)品。
LTE-Advanced是LTE的不斷發(fā)展進化的一步。適當(dāng)?shù)臏y試和測量在整個開發(fā)生命周期,然而,仍然是其成功擴散的關(guān)鍵。安捷倫先前介紹的LTE-Advanced信號分析儀和信號生成解決方案,行業(yè)第一,襲擊了這個問題在研發(fā)階段�，F(xiàn)在,嵌入式LTE-Advanced x系列測量應(yīng)用程序是解決在設(shè)計驗證和制造階段測試的挑戰(zhàn)。
新LTE-Advanced測量應(yīng)用程序提供了一鍵測量為安捷倫的x系列和模塊化的信號分析儀。測量速度快、可編程性計劃通過/失敗測試和操作簡單,適合應(yīng)用程序設(shè)計驗證和制造業(yè)。
“驗證和制造LTE-Advanced發(fā)射器和組件需要業(yè)內(nèi)最好的,最新的解決方案,”安迪Botka說,副總裁和總經(jīng)理安捷倫微波和通信部門。“建設(shè)對我們創(chuàng)新的良好記錄在新興的無線標(biāo)準(zhǔn),這個新的嵌入式測量應(yīng)用程序的廣泛支持3 gpp釋放11規(guī)范將確保我們的客戶有更大的洞察力和信心,他們需要LTE-Advanced無線測試。”
安捷倫的LTE-Advanced測量應(yīng)用程序啟用該行業(yè)最全面的射頻一致性測試連續(xù)和不連續(xù)LTE-Advanced發(fā)射器配置的3 gpp 11版規(guī)范定義的。具體測量支持包括發(fā)射機輸出功率特性測試,信號傳輸質(zhì)量和不必要的基站和用戶設(shè)備的排放。
也支持在測量應(yīng)用程序是累積ACLR(CACLR)和累積光譜排放面具(SEM)測量非相鄰載波intra-band aggregation-a 3 gpp 11版的新要求。intra-band非相鄰配置多余的排放射頻測量引入了獨特的挑戰(zhàn),因為頻譜內(nèi)的子塊缺口可以由另一個運營商部署。新的CACLR要求和獨特的特殊掃描電鏡測量措施來自運營商的面具兩邊的子塊的差距。新LTE-Advanced測量應(yīng)用程序是唯一的解決方案在市場上提供CACLR和非相鄰載波聚合特別SEM的面具。
x系列測量的應(yīng)用增加安捷倫信號分析儀的功能和功能速度時間洞察力。他們在通用為特定任務(wù)提供必要的測量,細胞通訊,無線連接和數(shù)字視頻應(yīng)用,覆蓋40多個標(biāo)準(zhǔn)或調(diào)制類型。應(yīng)用程序支持臺式和模塊化的,唯一的區(qū)別是水平的性能通過您選擇的硬件。選擇您的應(yīng)用程序所需的性能水平,充分保證計算和算法是相同的在你的信號分析,從開發(fā)通過制造。
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