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安捷倫下一代分析儀閃爍噪聲的措施
發(fā)布者: 發(fā)布時間:2014/4/1 23:34:00 閱讀:

安捷倫下一代分析儀閃爍噪聲的措施

 

 

安捷倫科技介紹了安捷倫EEsof EDA E4727A先進的低頻噪聲分析儀,描述為新一代硬件和軟件系統(tǒng)的測量和分析閃爍噪聲和隨機電報噪聲(RTN)。

閃爍噪聲長期以來被認為是電子設備的一個關鍵特征。它大大影響電路的性能如活躍的攪拌機,壓控振蕩器、頻率分隔器,放大器和比較器,基本構建塊在射頻、模擬/混合信號和高速有線通信的應用程序。

閃爍噪聲和RTN也都敏感的半導體材料和制造過程指標。與半導體行業(yè)繼續(xù)推進新技術,而低頻率噪聲的必要性從未像今天這么大;

分析器的設計,以滿足這些新的挑戰(zhàn)。其獨特的模塊化設計允許它最小化系統(tǒng)噪聲,在超低頻提供測量功能,并提供最好的高壓/大電流處理能力在市場上。

“在過去的二十年里,安捷倫提供了世界上最大的半導體材料供應商、鑄造廠、集成設備制造商,為低頻噪聲特性和設計房屋系統(tǒng),”Brian Chen表示設備建模規(guī)劃經(jīng)理安捷倫EEsof EDA。“現(xiàn)在,E4727A分析器,我們整合創(chuàng)新的測量算法將工業(yè)測量速度最快的日期和最大化客戶的投資回報。”

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